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所蔵数 1 在庫数 1 予約数 0

書誌情報サマリ

書名

はじめてのデバイス評価技術 

著者名 二川 清/著
著者名ヨミ ニカワ キヨシ
出版者 森北出版
出版年月 2012.9


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No. 所蔵館 配架場所 請求記号 資料番号 資料種別 状態 個人貸出 在庫
1 西部図書館一般開架5498/171/1102319307一般在庫 

書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

タイトルコード 1000002338788
書誌種別 図書
書名 はじめてのデバイス評価技術 
書名ヨミ ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ
版表示 第2版
言語区分 日本語
著者名 二川 清/著
著者名ヨミ ニカワ キヨシ
出版地 東京
出版者 森北出版
出版年月 2012.9
本体価格 ¥2400
ISBN 978-4-627-77442-1
ISBN 4-627-77442-1
数量 11,179p
大きさ 22cm
分類記号 549.8
件名 半導体
注記 初版:工業調査会 2000年刊
注記 文献:p169~175
内容紹介 半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。具体例・応用事例も紹介。
著者紹介 大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。日本電気株式会社(NEC)勤務を経て、金沢工業大学大学院客員教授、大阪大学大学院特任教授。



内容細目

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2012
549.8
半導体
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