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書誌情報サマリ

書名

表面分析:SIMS 

著者名 D.ブリッグス/編
著者名ヨミ D ブリッグス
出版者 アグネ承風社
出版年月 2003.7


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資料情報

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No. 所蔵館 配架場所 請求記号 資料番号 資料種別 状態 個人貸出 在庫
1 西部図書館一般開架4284/54/1101858729一般在庫 

書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

タイトルコード 1000001177987
書誌種別 図書
書名 表面分析:SIMS 
書名ヨミ ヒョウメン ブンセキ シムス
二次イオン質量分析法の基礎と応用
言語区分 日本語
著者名 D.ブリッグス/編   M.P.シーア/編   志水 隆一/監訳   二瓶 好正/監訳   新SIMS研究会/訳
著者名ヨミ D ブリッグス M P シーア シミズ リュウイチ ニヘイ ヨシマサ シン シムス ケンキュウカイ
著者名原綴 Briggs D. Seah M.P.
出版地 東京
出版者 アグネ承風社
出版年月 2003.7
本体価格 ¥8500
ISBN 4-900508-10-1
数量 429p
大きさ 21cm
分類記号 428.4
件名 表面(工学)   イオンビーム   質量分析
注記 原タイトル:Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳
内容紹介 二次イオン質量分析を中心に、スパッター中性粒子質量分析やイオン散乱分光法も包括した、SIMSの解説書。90年アグネ刊「表面分析」に続く第2弾。



内容細目

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2003
428.4
表面(工学) イオンビーム 質量分析
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