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資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
No. |
所蔵館 |
配架場所 |
請求記号 |
資料番号 |
資料種別 |
状態 |
個人貸出 |
在庫
|
1 |
西部図書館 | 一般開架 | 4284/54/ | 1101858729 | 一般 | 在庫 | 可 |
○ |
書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
タイトルコード |
1000001177987 |
書誌種別 |
図書 |
書名 |
表面分析:SIMS |
書名ヨミ |
ヒョウメン ブンセキ シムス |
|
二次イオン質量分析法の基礎と応用 |
言語区分 |
日本語 |
著者名 |
D.ブリッグス/編
M.P.シーア/編
志水 隆一/監訳
二瓶 好正/監訳
新SIMS研究会/訳
|
著者名ヨミ |
D ブリッグス M P シーア シミズ リュウイチ ニヘイ ヨシマサ シン シムス ケンキュウカイ |
著者名原綴 |
Briggs D. Seah M.P. |
出版地 |
東京 |
出版者 |
アグネ承風社
|
出版年月 |
2003.7 |
本体価格 |
¥8500 |
ISBN |
4-900508-10-1 |
数量 |
429p |
大きさ |
21cm |
分類記号 |
428.4
|
件名 |
表面(工学)
イオンビーム
質量分析
|
注記 |
原タイトル:Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳 |
内容紹介 |
二次イオン質量分析を中心に、スパッター中性粒子質量分析やイオン散乱分光法も包括した、SIMSの解説書。90年アグネ刊「表面分析」に続く第2弾。 |
内容細目
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D.ブリッグス M.P.シーア 志水 隆一 二瓶 好正 新SIMS研究会
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