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蔵書情報

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書誌情報サマリ

書名

二次イオン質量分析法 

出版者 丸善
出版年月 1999.7


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資料情報

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No. 所蔵館 配架場所 請求記号 資料番号 資料種別 状態 個人貸出 在庫
1 西部図書館一般書庫4284/47/1101651290一般在庫 

書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

タイトルコード 1000001078605
書誌種別 図書
書名 二次イオン質量分析法 
書名ヨミ ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
叢書名 表面分析技術選書
言語区分 日本語
出版地 東京
出版者 丸善
出版年月 1999.7
本体価格 ¥3600
ISBN 4-621-04623-3
数量 7,195p
大きさ 21cm
分類記号 428.4
件名 表面(工学)   イオンビーム   質量分析
注記 文献:章末
内容紹介 現場の分析実務技術者、材料及び各種機能デバイスの開発に従事している技術者を対象とした、表面分析法として位置づけが明確になっているSIMS(二次イオン質量分析法)の実用書。



内容細目

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2001
361.3
闘争(社会学) 人間関係 社会集団
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