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所蔵数 1 在庫数 1 予約数 0

書誌情報サマリ

書名

LSIの信頼性 

著者名 二川 清/編著
著者名ヨミ ニカワ キヨシ
出版者 日科技連出版社
出版年月 2010.10


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資料情報

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No. 所蔵館 配架場所 請求記号 資料番号 資料種別 状態 個人貸出 在庫
1 西部図書館一般開架5497/126/1102237060一般在庫 

書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

タイトルコード 1000002133012
書誌種別 図書
書名 LSIの信頼性 
書名ヨミ エルエスアイ ノ シンライセイ
叢書名 信頼性技術叢書
言語区分 日本語
著者名 二川 清/編著   塩野 登/著   横川 慎二/著   福田 保裕/著   三井 泰裕/著
著者名ヨミ ニカワ キヨシ シオノ ノボル ヨコガワ シンジ フクダ ヤスヒロ ミツイ ヤスヒロ
出版地 東京
出版者 日科技連出版社
出版年月 2010.10
本体価格 ¥3000
ISBN 978-4-8171-9363-6
ISBN 4-8171-9363-6
数量 8,183p
大きさ 21cm
分類記号 549.7
件名 集積回路   信頼性(工学)
注記 文献:章末
内容紹介 家電、携帯、パソコン、自動車など、生活のあらゆるところで、広く深く使われているLSIの普及を支える信頼性技術の主要な要素技術や手法に焦点をあてて解説。基礎から実際的な応用までを幅広く紹介する。
著者紹介 1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。同大学大学院情報科学研究科特任教授、金沢工業大学大学院工学研究科客員教授、芝浦工業大学工学部非常勤講師。



内容細目

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2010
549.7
集積回路 信頼性(工学)
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