検索結果書誌詳細

  • 書誌の詳細です。 現在、予約は 0 件です。
  • 「資料情報」から書誌を予約カートに入れるページに移動します。

蔵書情報

この資料の蔵書に関する統計情報です。現在の所蔵数 在庫数 予約数などを確認できます。

所蔵数 1 在庫数 1 予約数 0

書誌情報サマリ

書名

機器分析ハンドブック 3

出版者 化学同人
出版年月 2021.3


この資料に対する操作

カートに入れる を押すと この資料を 予約する候補として予約カートに追加します。

いますぐ予約する を押すと 認証後この資料をすぐに予約します。

この資料に対する操作

電子書籍を読むを押すと 電子図書館に移動しこの資料の電子書籍を読むことができます。


登録するリストログインメモ


資料情報

各蔵書資料に関する詳細情報です。

No. 所蔵館 配架場所 請求記号 資料番号 資料種別 状態 個人貸出 在庫
1 西部図書館一般開架433/44/31102601505一般在庫 

書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

タイトルコード 1000100882428
書誌種別 図書
書名 機器分析ハンドブック 3
巻次(漢字) 3
書名ヨミ キキ ブンセキ ハンドブック
各巻書名 固体・表面分析編
言語区分 日本語
出版地 京都
出版者 化学同人
出版年月 2021.3
本体価格 ¥2100
ISBN 978-4-7598-2023-2
ISBN 4-7598-2023-2
数量 8,196p
大きさ 21cm
分類記号 433
件名 機器分析
内容紹介 化学研究に欠かせない分析機器の使い方を、初心者にもわかるよう平易に解説。3は、熱分析、原子吸光分析法、蛍光X線分析法、X線光電子分光法など、固体・表面分析に焦点を当てる。
目次タイトル 1章 熱分析
1.1 はじめに 1.2 熱測定の基礎 1.3 熱重量分析(TGA) 1.4 示差熱分析(DIA)と示差走査熱量測定(DSC) 1.5 おわりに
2章 試料準備1 固体試料の溶解
2.1 はじめに 2.2 器具と試薬 2.3 試料溶液の調整(分解法) 2.4 試料溶液の調整(融解法) 2.5 おわりに
3章 試料準備2 分離操作
3.1 はじめに 3.2 液液抽出法 3.3 固相抽出法 3.4 共沈法 3.5 その他の方法 3.6 おわりに
4章 原子吸光分析法
4.1 はじめに 4.2 原理 4.3 測定可能元素 4.4 装置の概要 4.5 測光データの処理 4.6 共存物質の干渉と抑制 4.7 分析操作 4.8 試薬類,器具・環境の汚染対策 4.9 前処理 4.10 測定結果の見方と解析方法 4.11 おわりに
5章 誘導結合プラズマ発光分析法(ICP-OES)・質量分析法(ICP-MS)
5.1 はじめに 5.2 誘導結合プラズマ(ICP)の特徴 5.3 ICP発光分析法 5.4 ICP質量分析法(ICP-MS) 5.5 測定上の注意-ICP原子スペクトル分析における干渉- 5.6 おわりに
6章 蛍光X線分析法
6.1 はじめに 6.2 蛍光X線の発生 6.3 蛍光X線分析で何が分かるか 6.4 蛍光X線分析の特徴 6.5 蛍光X線の分光方式 6.6 試料の準備 6.7 蛍光X線スペクトルの解釈 6.8 定量分析 6.9 いくつかのXRF装置の構成と利用例 6.10 おわりに
7章 X線回折法
7.1 はじめに 7.2 粉末X線回折測定装置のあらまし 7.3 粉末X線回折装置の取り扱い方 7.4 試料の調製 7.5 結果の解析
8章 X線光電子分光法
8.1 はじめに 8.2 XPSの原理 8.3 XPS装置 8.4 XPS測定とデータ解析 8.5 おわりに
9章 光学顕微鏡
9.1 はじめに 9.2 金属顕微鏡の構成 9.3 金属顕微鏡の原理 9.4 基本の操作法 9.5 各種観察法の使い方と特徴 9.6 何が見えるか 9.7 おわりに
10章 電子顕微鏡(TEM,SEM,EPMA)
10.1 はじめに 10.2 透過型電子顕微鏡 10.3 走査型電子顕微鏡 10.4 おわりに
11章 プローブ顕微鏡
11.1 はじめに 11.2 SPMの原理 11.3 STMの原理 11.4 AFMの原理 11.5 カンチレバーの特性 11.6 フォースカーブ測定 11.7 摩擦力顕微鏡(FFM) 11.8 ダイナミックモード 11.9 ロックインアンプを用いた応用測定 11.10 SPM観察のコツ 11.11 おわりに
付録
付録1 試料溶解に用いられる試薬およびその溶解反応 付録2 無機元素分析のための各種試料の溶解例 付録3 特性X線のエネルギー 付録4 電子の結合エネルギー



内容細目

関連資料

この資料に関連する資料を 同じ著者 出版年 分類 件名 受賞などの切り口でご紹介します。

2021
2021
433 433
機器分析
前のページへ

本文はここまでです。


ページの終わりです。