蔵書情報
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書誌情報サマリ
書名 |
残留応力のX線評価
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著者名 |
田中 啓介/共著
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著者名ヨミ |
タナカ ケイスケ |
出版者 |
養賢堂
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出版年月 |
2006.7 |
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資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
No. |
所蔵館 |
配架場所 |
請求記号 |
資料番号 |
資料種別 |
状態 |
個人貸出 |
在庫
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1 |
西部図書館 | 一般開架 | 50155/5/ | 1102019679 | 一般 | 在庫 | 可 |
○ |
書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
タイトルコード |
1000000165294 |
書誌種別 |
図書 |
書名 |
残留応力のX線評価 |
書名ヨミ |
ザンリュウ オウリョク ノ エックスセン ヒョウカ |
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基礎と応用 |
言語区分 |
日本語 |
著者名 |
田中 啓介/共著
鈴木 賢治/共著
秋庭 義明/共著
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著者名ヨミ |
タナカ ケイスケ スズキ ケンジ アキニワ ヨシアキ |
出版地 |
東京 |
出版者 |
養賢堂
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出版年月 |
2006.7 |
本体価格 |
¥6000 |
ISBN |
4-8425-0384-X |
数量 |
7,363p |
大きさ |
21cm |
分類記号 |
501.55
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件名 |
非破壊検査
歪測定
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内容紹介 |
初心者でも学べるように、残留応力に関する材料力学の知識と結晶に関する基礎から説き起こし、X線応力測定の実験をすることが可能となるよう記述。新技術・新材料に関する最新の進歩について説明する。 |
内容細目
No. |
内容タイトル |
内容著者1 |
内容著者2 |
内容著者3 |
内容著者4 |
1 |
第Ⅰ部 残留応力の基礎 |
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2 |
第1章 応力とひずみ |
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3 |
第2章 残留応力の発生・評価・制御 |
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4 |
第3章 残留応力と強度評価 |
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5 |
第Ⅱ部 X線応力測定の基礎 |
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6 |
第4章 結晶材料 |
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7 |
第5章 X線と回折 |
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8 |
第6章 多結晶のX線応力測定 |
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9 |
第7章 X線応力測定の実際 |
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10 |
第Ⅲ部 X線応力測定法の応用 |
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11 |
第8章 シンクロトロン放射光による応力測定 |
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12 |
第9章 中性子回折による応力測定 |
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13 |
第10章 多相材料・複合材料の応力評価 |
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14 |
第11章 表面改質・コーティングの応力評価 |
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15 |
第12章 薄膜の応力評価 |
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16 |
第13章 接合・溶接材の残留応力評価 |
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17 |
第Ⅳ部 結晶弾性のマイクロメカニックス |
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18 |
第14章 単結晶の弾性変形 |
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19 |
第15章 単結晶のX線応力測定 |
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20 |
第16章 多結晶・多相材料の回折弾性定数 |
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21 |
第17章 繊維配向を有する立方晶多結晶薄膜のX線応力測定 |
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22 |
付録A cosα法による多結晶のX線応力測定 |
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23 |
付録B 表面除去による残留応力分布の補正 |
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24 |
付録C 圧電セラミックスのひずみ測定 |
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25 |
付録D ReussモデルおよびVoigtモデルによる多結晶の弾性定数の導出 |
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26 |
付録E マイクロメカニックスによる多結晶・多相材料の弾性定数の導出 |
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